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日本岛津纳米颗粒测定仪器IG-1000[产品打印页面]

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产品名称: 日本岛津纳米颗粒测定仪器IG-1000
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产品展商: 天津汇科
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简单介绍

作为粒度仪的专业生产厂商,岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密...


日本岛津纳米颗粒测定仪器IG-1000  的详细介绍

作为粒度仪的专业生产厂商,岛津公司新推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG-1000,并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009(3月8日至3月13日)展会众多产品中脱颖而出,获得“撰稿人奖”铜奖。
      与以往粒度测定仪器原理不同,IG方法(Induced Grating method)是岛津公司开发的独一无二的纳米粒径测定技术。IG-1000采用介电电泳原理,介电电泳ON时,形成部分的高(低)粒子浓度;介电电泳OFF时, 粒子扩散恢复为原始状态;由介电电泳力使粒子构成衍射光栅,扩散后的浓度降低导致衍射光强度降低,从衍射光强度的时间变化可以得到粒子的扩散系数,进而得到粒子的粒径。 

      IG-1000相关参数如下:

  • 光源:半导体激光(波长785nm)
  • 测定原理:诱导衍射光栅法
  • 测量范围:0.5~200nm
  • 测定体积:250~300uL
  • 测定时间:总计30秒

      与目前采用散射光的动态光散射仪器(DLS)方法相比较, 优势明显。测定范围*低到0.5nm,在单一纳米颗粒领域可以获得十分良好的信噪比(S/N),灵敏度也非常高,如图一。

图一 C60(OH)n的测定结果 大阪大学 小久保先生提供

      即便样品中含有少量的粗大粒子时对测定也没有影响,分布广的样品可以得到正确的结果,克服了以往DLS产品耐污染性差的缺点。如图二所示。

图二 粒径为50nm的粒子的测定结果,样品中含有1%的1um的粒子

      IG-1000不使用散射光,因此不受物理参数的限制,不要求输入折射率因子(refractive index)作为测量条件。

      列入将来JIS计划的分布范围10倍的氧化硅粒子样品,在IG-1000上能够给出很好的测定效果,中间粒径是76nm,与SEM的结果非常一致;而该样品如果使用DLS测定,中间粒径测定结果为100~150nm。该结果如图三所示,已在2008年十月份的日本粉体工学会,与同志社大学的森先生共同发表。

图三 分布范围10倍的氧化硅粒子测定结果

      IG-1000的方便可靠之处还在于,可利用原始数据(衍射光强度对时间的变化)来进行测定结果的可靠性验证,如图四。

图四 不同尺度粒子的衍射光强度与时间的关系

      岛津公司粒度测定装置种类齐全,单一纳米粒径的新产品IG-1000可以与岛津其他多种型号的激光粒度仪联合使用,实现了从纳米到微米范围的可靠测定。

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